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IGBT內(nèi)部缺陷檢測(cè)之X射線檢測(cè)設(shè)備

更新更新時(shí)間:2023-06-08

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X測(cè)設(shè)可以測(cè)IGBT內(nèi)問(wèn)題。IGBT導(dǎo),應(yīng)過(guò),IGBT可能會(huì)現(xiàn)內(nèi),、問(wèn)題,會(huì)IGBT穩(wěn)X應(yīng)IGBT測(cè),可以測(cè)IGBT內(nèi)顯示位置、大小。X測(cè)設(shè)可以通過(guò)IGBT一個(gè)位置對(duì)進(jìn)行X來(lái)測(cè)內(nèi)。通過(guò)顯示X操作可以進(jìn)行復(fù)。項(xiàng)測(cè)可以IGBT質(zhì),并設(shè)。


X測(cè)設(shè)就能非常直觀的檢測(cè)IGBT內(nèi)部的氣泡或者其他缺陷,而且XRAY檢測(cè)是一種無(wú)損探傷檢測(cè),不會(huì)破壞IGBT就能看到其內(nèi)部的結(jié)構(gòu)是否有缺陷或異物。正業(yè)科技從事X測(cè)設(shè)研發(fā)10多年,目前生產(chǎn)的全自動(dòng)XRAY檢測(cè)設(shè)備XG5500可用于半導(dǎo)體芯片、IGBT、SMT等缺陷進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),可實(shí)現(xiàn)檢實(shí)現(xiàn)零漏檢、極低誤檢,檢測(cè)效率高,可以助力企業(yè)提質(zhì)增效。


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